恒溫振蕩培養箱

恒溫振蕩培養箱（智能型控制） 振蕩培養箱 型號：TC-HZQ―X100

一、產品介紹：
TC-HZQ―X100恒溫振蕩培養箱是我廠TC-HZQ系列產品中的一種，其結構為落地型雙層立式。
二、性能與特點：
1、集恒溫培養箱與振蕩器于一體，既可靜態培養、也可作動態培養，一機二用。
2、驅動機構為三維一體的偏三輪，具有旋轉平穩、堅固耐用，尤其是截重性能好，對振蕩板上的培養體放置無需平均。

（智能型控制） 振蕩培養箱 型號：TC-HZQ―X100

3、采用LED的數字顯示取代了以往的液晶屏顯示;使得操作清楚、觀察時一目了然。
4、控溫采用PID溫度補償功能，減少了箱內的溫度過沖和不必要的波動。
5、驅動電機采用特種的交流感應無刷電機，使用后故障少、壽命長。
6、外型美觀，大型門并裝有照明燈。
三、技術指標
1、振蕩頻率：50-260rpm
2、振 幅：26MM
3、控溫范圍：室溫―50℃

（智能型控制） 振蕩培養箱 型號：TC-HZQ―X100
4、顯示方式：LED
5. 容積：100L
6、 大容量：250ml×32或500ml×18或1000ml×10
7、標準配置：上層配萬能夾具、

（智能型控制） 振蕩培養箱 型號：TC-HZQ―X100
下層配500ml×9
8、電源：AV200-240V 50HZ
9、外型尺寸：600X500X1050mm

產品名稱：GJB 937-90 軟磁材料直流測量裝置 磁性材料測量儀 軟磁直流測試系統 產品型號：FE-2100SD

GJB 937-90 軟磁材料直流測量裝置 磁性材料測量儀 軟磁直流測試系統型號：FE-2100SD

FE-2100SD軟磁材料直流測量裝置    FE-2100SD軟磁材料直流測量系統，自動測量軟磁材料在靜態（直流）條件下的基本磁化曲線和磁滯回線，準確測量起始磁導率μi、大磁導率μm、飽和磁感應強度Bs、剩磁Br、矯頑力Hc和磁滯損耗Pu等靜態磁特性參數。   
    測試系統依照沖擊法的測量原理，采用計算機控制技術和A/D、D/A相結合，以電子積分器取代傳統沖擊檢流計，實現在微機控制下的模擬沖擊法測量，*消除經典沖擊法中因使用沖擊檢流計所帶來的非瞬時性誤差，提高了測量精度，為研究材料磁化過程機理提供可靠依據。  
適用標準  
  ● GB/T 13012-2008 軟磁材料直流磁性能的測量方法  
● GJB 937-90 弱磁材料磁導率的測量方法  
● GJB 937-90 弱磁材料磁導率的測量方法  
● SJ/T 10281-91 磁性零件有效參數的計算  
● IEC 60404-4 軟磁材料直流磁性能的測量方法  
● IEC 404-7 開路磁性材料矯頑力的測量方法 
產品特點： 
● 覆蓋軟磁材料所有直流磁特性參數的測量 
● 電源帶自動退磁功能確保測試初始磁導率準確 
● 勵磁電流自動切換檔位，確保測試精度 
● 極低漂移的磁通計自動切換，確保測試卡的使用精度 
● 常規樣品自動計算磁路長度和有效面積 
● 常規樣品可根據樣品尺寸自動按國標計算有效磁路長度Le和面積Ae 
● 解決了同類產品在測試低Br材料重復性不好的問題 
● 各項參數的測試重復性處水平 
● 可配置螺線管或磁導計滿足開路樣品的測量

〖 關閉 〗  

產品名稱：SX1934D型二合一數字式四探針測試計 產品型號：SX1934D

 SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀器由主機、測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結果由數字表頭直接顯示。主機主要由數控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，自動轉換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點(自動調零)。可鑒別半導體PN類別。

詳細參數

產品名稱：高速振動球磨機 產品型號：MSK-SFM-3

高速振動球磨機 型號：MSK-SFM-3

SFM-3高速振動球磨機機能用干、濕兩種方法球磨或混合粒度不同、材料各異的各類固體、懸浮液和糊膏，高速振動球磨機有一個偏心擺軸，在馬達的高速運轉時，罐體產生偏心擺動；帶動整個支架上下振動，使得研磨過程在高速擺動和振動的三維空間中完成，大大提高了研磨的速度和效率。

技術參數