詳細介紹
半導體HSAT非飽和高壓加速老化試驗箱
隨著半導體可靠性的提高,大多半導體器件能承受*的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。
瑞凱儀器HSAT非飽和高壓加速老化試驗箱*安全保護裝置
誤操作安全裝置:高壓加速老化試驗機鍋門若未關緊則機器無法啟動;
超壓安全保護:當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓;
超溫保護:當鍋內溫度過高時機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源;
防燙傷保護:特制材質制成可防止操作人員接觸燙傷;
手動安全保護排壓伐。
半導體HSAT非飽和高壓加速老化試驗箱
1、微電腦+PID+SSR自動演算控制飽和蒸汽溫度
2、LED溫度顯示控制器
3、精密壓力顯示表
4、鉑金電阻溫度感應器
5、絕緣耐壓型溫度加溫電熱器