熱電偶 | 測量或輸出 | J | -200到0℃
0到1200℃ | 1.0℃
0.7℃ | K | -200到0℃
0到1370℃ | 1.2℃
0.8℃ | T | -200到0℃
0到400℃ | 1.0℃
0.8℃ | E | -200到0℃
0到950℃ | 0.9℃
0.7℃ | R | -20到0℃
0到500℃
500到1750℃ | 2.5℃
1.8℃
1.4℃ | S | -20到0℃
0到500℃
500到1750℃ | 2.5℃
1.8℃
1.5℃ | B | 600到800℃
800到1000℃
1000到1800℃ | 2.2℃
1.8℃
1.4℃ | L | -200到0℃
0到900℃ | 0.85℃
0.7℃ | U | -200到0℃
0到400℃ | 1.1℃
0.75℃ | N | -200到0℃
0到400℃ | 1.5℃
0.9℃ | | 分辨率 | | J, K, T, E, L, N, U | 0.1℃, 0.1°F | | B, R, S | 1℃, 1°F | | 注： | | 準確度指標包括0.2℃冷端不確定度 | |
美國福祿克FLUKE F725 多功能過程儀表校準器技術指標:測量或輸出 | 量程 | 分辨率 | 準確度 | 注釋 | | 電 壓 | 0到100mV
0到10V(source)
0到30V(measure) | 0.01mV
0.01V
0.01V | 0.02%Rdg+2LSD | Max load, 1mA | | 電流mA | 0到24 | 0.001mA | 0.02%Rdg+2LSD | Max load, 1000Ω | | mV(TC terminals) | -10.00mV到+75.00mV | 0.01mV | 0.25% of range+1LSD | | | 電 阻 | 0Ω到3200Ω(measure)
15Ω到3200Ω(source) | 0.01Ω到0.1Ω | 0.1Ω到1.0Ω | | | 頻 率 | 2.0到1,000.0CPM
1到1100Hz
1.0到10.0kHz
| 0.1CPM
1Hz
0.1kHz | ±0.05%
±0.05%
±0.25% | 對于頻率輸出方波5Vp-p,-0.1V偏移 | | 回路電源 | 24V dc | N/A | 10% | |
溫度影響：-10℃到18℃，28℃到55℃，±0.005%量程/度。 同時具有的功能 | 通道A | 通道B | | 24.00 mA DC | M | M或S | | 24.00 mA DC帶24V回路電源 | M | | | 100.00 mV DC | | S | | 30.000V DC測量 | M | | | 20.000V DC測量10.000V DC輸出 | | M或S | | 15或3200歐姆 | | M或S | | 熱電偶J，K，T，E，R，S，B，L，U，N | | M或S | | 鉑電阻：Ni120;Pt100(392);Pt100(JIS);R100,200,500,1000(385) | | M或S | | 壓力（需Fluke 700Pxx壓力模塊） | M | M或S | 頻率：方波，1CPM到10kHz
固定幅度：5Vp-p | | M或S |
M=測量 S=輸出/模擬 美國福祿克FLUKE F725 多功能過程儀表校準器 鉑電阻量程和準確度指標:RTD類型、量程和準確度指標 | | | | 測量 | 輸出 | | Ni20 | -80℃到260℃ | 0.2℃ | 0.2℃ | | Pt 100-385 | -200℃到800℃ | 0.33℃ | 0.33℃ | | Pt 100-392 | -200℃到630℃ | 0.3℃ | 0.3℃ | | Pt 100-JIS | -200℃到630℃ | 0.33℃ | 0.33℃ | | Pt 200-385 | -200℃到250℃
250℃到630℃ | 0.2℃
0.8℃ | 0.2℃
0.8℃ | | Pt 500-385 | -200℃到500℃
500℃到630℃ | 0.3℃
0.6℃ | 0.3℃
0.4℃ | | Pt 1000-385 | -200℃到100℃
100℃到630℃ | 0.2℃
0.2℃ | 0.2℃
0.2℃ | | 分辨率 | | RTD | 0.1℃, 0.1°F | |
|
